GEN3 檢測設備
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GEN3 檢測設備

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    最專業電子品質保證設備
    全球首款- 基於加熱平台 (Platen) 的系統,
    可產生可控的冷凝層
    AutoCHT 冷凝濕度測試儀

模擬真實狀況中的露水形成,並檢測電子組裝中隱藏的濕氣失效問題。
AutoCHT
是一款強大的工具,可在高溫高濕測試 (DHT) 過程中觸發並觀察局部的濕氣導致的失效,
從而精確評估塗層完整性,線路間隙及佈局設計。

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    The world's Premier Solderability Test System
    GEN3 MUST 3 焊錫性測試儀

MUST System 3 是全球經典機型 Multicore 通用可焊性測試儀(MUST 的最新技術革新之作。自 1975 年問世以來,全球已超過 4,000 套安裝,並被譽為現代所有可焊性測試標準的奠基者。憑藉卓越的精準度與可靠性,MUST 系列始終穩居全球銷量第一、業界公認標竿的可焊性測試系統。
全新 MUST 3 完整支援所有主流國際標準,內建完整的測試功能,能全面涵蓋各類可焊性測試需求,為您帶來最權威、最全面的焊接品質驗證方案。

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    Surface Insulation Resistance Testing
    SIR Tester 表面阻抗測試

全新 AutoSIR2+ 系統 相較於現有的 SIR(表面絕緣電阻)測試方案,帶來了顯著的性能提升。其具備屏蔽式高精度電子模組,能夠進行高達 10¹⁴ 歐姆 的超高阻抗量測,實現業界領先的精準度。

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    Conductive Anodic Filament
    CAF Tester 阻抗測試

全新 AutoCAF2+ 系統 相較於現有的 SIR(表面絕緣電阻)測試方案,帶來了顯著的性能提升。其具備屏蔽式高精度電子模組,能夠進行高達 10¹⁴ 歐姆 的超高阻抗量測,實現業界領先的精準度。

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    Ionic Contamination Tester
    離子濃度污染測試儀

榮獲國際大獎肯定的 GEN3CM 系列離子污染測試儀」,全球首創同時整合 ROSE(溶劑萃取電阻) PICT(製程離子污染測試) 雙重功能,重新定義電子製程潔淨度檢測的新標準。
CM
系列專為精密測量電子組件與電路板中的**離子污染含量(即潔淨度)**而設計,全面符合所有國際測試規範。
市面上常見的 ROSEResistivity of Solvent Extracted)或 SECSolvent Extract Conductivity)測試方法,都已完整整合於本系統中。
更領先業界的是,GEN3 首度提出 PICTProcess Ionic Contamination Testing 概念,提供製程控制最關鍵的潔淨度評估指標,助您全面掌握品質風險,強化產品可靠度。

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