GEN3 檢測設備
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GEN3 檢測設備

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    最专业电子品质保证设备
    全球首款- 基于加热平台 (Platen) 的系统,
    可产生可控的冷凝层
    AutoCHT 冷凝湿度测试仪

模拟真实状况中的露水形成,并检测电子组装中隐藏的湿气失效问题。
AutoCHT
是一款强大的工具,可在高温高湿测试 (DHT) 过程中触发并观察局部的湿气导致的失效,
从而精确评估涂层完整性,线路间隙及布局设计。

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    The world's Premier Solderability Test System
    GEN3 MUST 3 焊锡性测试仪

MUST System 3 是全球经典机型 Multicore 通用可焊性测试仪(MUST 的最新技术革新之作。自 1975 年问世以来,全球已超过 4,000 套安装,并被誉为现代所有可焊性测试标准的奠基者。凭藉卓越的精准度与可靠性,MUST 系列始终全球销量第一、业界公认标竿的可焊性测试系统。
全新 MUST 3 完整支援所有主流国际标准,内建完整的测试功能,能全面涵盖各类可焊性测试需求,为您带来最权威、最全面的焊接品质验证方案。

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    Surface Insulation Resistance Testing
    SIR Tester 表面阻抗测试

全新 AutoSIR2+ 系统 相较于现有的 SIR(表面绝缘电阻)测试方案,带来了显著的性能提升。其具备屏蔽式高精度电子模组,能够进行高达 10¹⁴ 欧姆 的超高阻抗量测,实现业界领先的精准度。

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    Conductive Anodic Filament
    CAF Tester 阻抗测试

全新 AutoCAF2+ 系统 相较于现有的 SIR(表面绝缘电阻)测试方案,带来了显著的性能提升。其具备屏蔽式高精度电子模组,能够进行高达 10¹⁴ 欧姆 的超高阻抗量测,实现业界领先的精准度。

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    Ionic Contamination Tester
    离子浓度污染测试仪

荣获国际大奖肯定的 GEN3CM 系列离子污染测试仪」,全球首创同时整合 ROSE(溶剂萃取电阻) PICT(制程离子污染测试) 双重功能,重新定义电子制程洁净度检测的新标准。
CM
系列专为精密测量电子组件与电路板中的**离子污染含量(即洁净度)**而设计,全面符合所有国际测试规范。
市面上常见的 ROSEResistivity of Solvent Extracted)或 SECSolvent Extract Conductivity)测试方法,都已完整整合于本系统中。
更领先业界的是,GEN3 首度提出 PICTProcess Ionic Contamination Testing 概念,提供制程控制最关键的洁净度评估指标,助您全面掌握品质风险,强化产品可靠度。

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